HIVE

科研影像大數據分析及儲存中心
相容各式儀器
實驗室規格、高速、無干擾
Deep Learning/ Security/ Remote

RCM

複式共軛焦掃瞄系統
解析度光學解析提升到170nm/ 130nm
可安裝於各式顯微鏡、相機
NIR/ VIS

CALRITY

LED 轉盤式共軛焦模組
相容各式顯微鏡
最高可達100 fps

UNITY

攜帶式全自動轉盤共軛焦
全機一體成型、即開即用
多色取像，速度最高40fps

SPARC

CL 陰極光偵測系統
可客製化、操作直覺簡單
快速量測、電控重現及比對

SPARC COMPACT

奈米級高速 CL系統
彈性架構並可依實驗升級
實驗更進化，大面積觀察

JOLT

全色域/RGB CL 光偵測系統
快速運作及啟動
可於其他偵測系統共同運作
intensity maps生成

SECOM

CLEM同時取得SEM及螢光影像
支援各式SEM電顯
最佳化流程，精準且直觀易用

DELPHI

一體式CLEM方案
隨裝即用、簡單直接
省時方便、自動疊圖

FAST-EM

超高速高通量多光束EM
64光束、高通量高速運行
大面積、高精確度

METEOR

整合式cry-CLEM系統
直覺易用、最佳化流程
高效率、精準省時

Amira

SVI

Huygens

SVI - Huygens
知名de-convolution軟體公司
完整拼接、分析等功能，支援10多種光學架構，提供完整GPU加速

低度滲液傷口專用

Xlta™ MAX 340 gsm

中度滲液傷口專用

Xlta™ SUPER 640 gsm

重度滲液傷口專用

Xlta™ ACE 750 gsm

Amira

Avizo